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【干貨】低壓成套設(shè)備溫升試驗(yàn)介紹

發(fā)布日期:2020-12-17 作者:法騰電力 點(diǎn)擊:

      溫升值是指裝置內(nèi)的開(kāi)關(guān)電器、母排等部件的工作溫度與周?chē)諝鉁囟戎?。裝置內(nèi)各部件的溫升是由多種因素影響的,開(kāi)關(guān)電器的選擇、相序排列、母排的材質(zhì)、加工及單元模數(shù)的選取、開(kāi)關(guān)電器的安裝、裝置的防護(hù)等級(jí)等各種因素都影響溫升數(shù)值。溫升通常采用熱電偶測(cè)量,熱電偶具有尺寸小,對(duì)被測(cè)量點(diǎn)溫升影響小,使用方便等優(yōu)點(diǎn),在電器及成套測(cè)試中應(yīng)用廣泛。

1.溫升試驗(yàn)對(duì)成套設(shè)備的要求

      在測(cè)量溫升前,成套設(shè)備應(yīng)如正常使用時(shí)一樣放置,所有覆板都應(yīng)就位。對(duì)繼電器、接觸器、脫扣器等的線圈施加額定電壓。進(jìn)行溫升的成套設(shè)備應(yīng)具有代表性,如果被測(cè)的成套設(shè)備系統(tǒng)包含幾個(gè)方案,通常選擇Z嚴(yán)酷布置的成套設(shè)備系統(tǒng)進(jìn)行試驗(yàn)。

2.試驗(yàn)電流的確定

      試驗(yàn)應(yīng)在一個(gè)或多個(gè)有代表性的組合電路上進(jìn)行,這些電路體現(xiàn)了該成套設(shè)備的主要用途,所選擇的電路應(yīng)能足夠準(zhǔn)確地得到盡可能的Z高溫升。

      對(duì)于這種試驗(yàn),進(jìn)線電路及出線電路通以標(biāo)準(zhǔn)(GB7251.1-2013)中規(guī)定的電流。如果成套設(shè)備中包含有熔斷器,試驗(yàn)時(shí)應(yīng)按制造商的規(guī)定配備熔芯,試驗(yàn)所用熔芯的功率損耗應(yīng)載入試驗(yàn)報(bào)告中。

      成套設(shè)備中的電路的額定電流由制造商根據(jù)電氣設(shè)備的額定值及布置和應(yīng)用情況來(lái)確定,如果制造商給出了額定分散系數(shù),應(yīng)按照制造商給出的分散系數(shù)進(jìn)行試驗(yàn)。

3.溫升試驗(yàn)電路

    1)單相溫升試驗(yàn)電路。

      試驗(yàn)電流小于或等于400A時(shí),可以考慮使用單相法。只有當(dāng)磁場(chǎng)的作用小到可以忽略的程度,多相成套設(shè)備才允許采用單相交流電。這是因?yàn)橛脝蜗嚯娫催M(jìn)行試驗(yàn),相鄰兩導(dǎo)體中通過(guò)交流電流時(shí)會(huì)產(chǎn)生鄰近效應(yīng),使導(dǎo)體中電流分布不均勻,實(shí)際上減小了導(dǎo)體的有效面積,增加了導(dǎo)體的實(shí)際電阻。由于三相電與單相電的相位不同,各相導(dǎo)體間鄰近效應(yīng)的影響也不同,所以溫升試驗(yàn)時(shí)的溫升也有差別。

    2)三相溫升試驗(yàn)電路

       試驗(yàn)電路電流大于400A時(shí),要采用三相交流電源。

    3)用功率損耗等效的電阻器進(jìn)行溫升試驗(yàn)

       對(duì)于某些主電路和輔助電路額定電流比較小的封閉式成套設(shè)備其功率損耗可使用能產(chǎn)生相同熱量的加熱電阻器來(lái)模擬,該電阻器安裝在外殼中適當(dāng)?shù)奈恢蒙?。連到電阻器上的引線截面不應(yīng)導(dǎo)致顯著的熱量傳出外殼。加熱電阻試驗(yàn),對(duì)相同外殼的所有成套設(shè)備應(yīng)具有充分的代表性,盡管外殼內(nèi)裝有不同的電器元件,但只要考慮電路的分散系數(shù)后,其總功率損耗不超過(guò)試驗(yàn)時(shí)的功率損耗即可。

4.溫升測(cè)量點(diǎn)的確定

       溫升測(cè)量點(diǎn)的確定包括內(nèi)裝的元器件進(jìn)出線處,用于連接外部絕緣導(dǎo)線的端子,母線連接處,母線與導(dǎo)體連接處,可移式部件和抽出式部件進(jìn)出線插頭,與發(fā)熱元件、發(fā)熱導(dǎo)體相鄰或接觸的絕緣材料,操作手柄等。

5.溫升的測(cè)量

      用熱電偶測(cè)量溫升點(diǎn),應(yīng)防止空氣流動(dòng)和熱輻射對(duì)熱電偶的影響。試驗(yàn)的時(shí)間足以使溫升上升到穩(wěn)定值(一般不超過(guò)8小時(shí)),實(shí)際上當(dāng)溫升不超過(guò)1K/h時(shí),即認(rèn)為溫升穩(wěn)定。如果元器件允許的話,可以在試驗(yàn)開(kāi)始時(shí)加大電流,然后再降到規(guī)定的試驗(yàn)電流值,用這樣的方法縮短試驗(yàn)時(shí)間。

6.環(huán)境穩(wěn)定的測(cè)量

      環(huán)境溫度應(yīng)在試驗(yàn)周期的Z后1/4期間內(nèi)測(cè)量,至少要用兩個(gè)熱電偶或溫度計(jì)均勻地布置在成套設(shè)備的周?chē)涓叨燃s等于成套設(shè)備的二分之一,并距成套設(shè)備1m的地方安裝,應(yīng)防止空氣流動(dòng)和熱輻射對(duì)溫度計(jì)或熱電偶的影響。

       試驗(yàn)期間的環(huán)境溫度應(yīng)在10~40攝氏度之間。

7.試驗(yàn)結(jié)果判定

       試驗(yàn)結(jié)束時(shí),溫升值不應(yīng)超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)中的規(guī)定值。元器件在成套設(shè)備內(nèi)部溫度下,并在其規(guī)定的電壓極限范圍內(nèi)應(yīng)良好地工作。

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關(guān)鍵詞: 溫升試驗(yàn) 成套設(shè)備 低壓

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